Medidas de distorsión no lineal en dispositivos de radiofrecuencia (Parte II)

Prof. Dr. Francisco Ramos Pascual

(Artículo publicado en la revista GIGATRONIC nº 16)

Contenido del artículo

En el anterior artículo se presentaron los fundamentos básicos de medida de las distorsiones armónicas y de intermodulación en el laboratorio, tanto empleando un analizador de espectros como un equipo específico de medida: analizador de señales basado en FFT. En la práctica, la precisión que se obtiene en la medida empleando uno de estos equipos es mejor que con un analizador de espectros convencional. No obstante, un analizador de espectros de gran margen dinámico puede ser una excelente opción para este tipo de medidas.

En este artículo se describirán las características típicas de un analizador de espectros de altas prestaciones preparado para medidas de distorsión no lineal, como por ejemplo el mostrado en la figura 1. Asimismo, se presentarán sus principales limitaciones y consideraciones a tener en cuenta para un funcionamiento óptimo. Por último, se comentarán otro tipo de medidas que pueden realizarse en el laboratorio directamente relacionadas con la distorsión no lineal.

Analizador de espectros de altas prestaciones E4440A de Agilent

Fig. 1. Analizador de espectros de altas prestaciones E4440A de Agilent.

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